Руководители: Матвеев В.И., Ананян М.А.
1.17.1. Ананян М.А. Сканирующие зондовые микроскопы и их
развитие.
1.17.2. Быков В. А Нанотехнологические комплексы для научных
исследований и диагностики материалов.
1.17.3. Клюев В. В., Матвеев В. И.. Средства НК и ТД
нанопродукции.
1.17.4. H. Dosh. Развитие рентгеновских и нейтронных методов
дефектоскопии наноматериалов.
1.17.5. Н. Ю. Стрельникова. Суперострые зонды для повышения
разрешающей способности зондовой микроскопии.
1.17.6. Венгринович В.Л. Развитие нанотомографических систем.
1.17.7. Усачёв Е.Ю. Средства контроля и диагностики
наноматериалов и объектов.
1.17.8. Тодуа П. А. Метрологическое обеспечение нанотехнологий
шаговыми мерами наноразмеров.
1.17.9. Толстогузов В.Л. Малогабаритные датчики
наноперемещений.
1.17.10. Борисов К.Е. Наносенсорная система "электронный нос".
1.17.11. Классен Н.В. Применение нанокристаллических
сцинтилляторов в рентгеноструктурном анализе.
1.17.12. P.Laggner. Визуализация наносистем с использованием
современной рентгеновской техники.
1.17.13. Масюк А.В.. Средства современной нанодиагностики
компании FEI Company.
1.17.14. Астахов М.В., Ягодкин Ю.Д.. Нанодатчики для контрольно –
измерительной аппаратуры.
1.17.15. Молчанов С.П.. Комплексное изучение нанообъектов с
помощью сканирующего атомно – силового спектрометра.
1.17.16. Шашкин В.И. Неохлаждаемые высокочувствительные
наноприемники терагерцового диапазона для визуализации
различных структур.
1.17.17. Визендангер Р. Перспективы наноспинтроники.
1.17.18. Бойко М.Е.. Диагностирование наноразмерных дефектов
методом малоуглового рассеяния рентгеновских лучей.
1.17.19. Левин Г.Г. Развитие нанофотоники с помощью
метаматериалов.
1.17.20. Kempe Ph.. Диагностическое оборудование для
исследования материалов в нано - и микродиапазонах
компании CSM-Instruments.
1.17.21. Филинов М.В., Маслов А.А. Оптический измеритель
наноперемещений.
1.17.22. Гуркин Н.В., Гузий В.П. Исследование методом
сканирующей туннельной микроскопии процесса коррозии
на примере концевых мер стали.
1.17.23. Шахнов В.А. Электронные микроскопы для исследования
биологических объектов.
1.17.24. Клименов В.А., Капранов Б.И., Шаркеев Ю.П., Чахлов С.В.,
Белкин Д.А. Визуализация и контроль внутренней структуры
нанокристаллического титана и изделий из него.
1.17.25. Авдеева Д.К., Клубович И.А. Результаты
экспериментальных исследований метрологических
характеристик наноэлектродов для измерения
электрических полей Земли и биопотенциалов человека.
Стендовые доклады
1.17.26. Потапов И.А. Схемотехнические и технологические
особенности волоконно-оптических преобразователей
перемещений
1.17.27. Рыхлицкий С.В. Спектральные эллипсометрические
комплексы для тонких наноизмерений. ЗАО НПК "Центр
нанотехнологий"
1.17.28. Гуркин Н.В., Гузий В.П. Исследование методами
сканирующей зондовой микроскопии влияния
радиационного излучения на структуру и свойства
материалов.
